Toshiyuki Kawanishi Blog

ET2008でテストの勉強

今日は，ET2008に行ってきました。

• 組込み総合技術展: Embedded Technology 2008

一番の目的は，ソフトウエアテストに関するセッションを受講することです。テスト関係では以下の4つのセッションがありましたが、すべて受講してきました。

• 品質確保のためのテスト・アプローチ: 片山 徹郎 氏
• 状態遷移テストの基本と実践: 穴田 啓樹 氏
• テスト設計とその勘所〜 テスト設計へのマインドマップ活用法 〜: 池田 暁 氏
• 品質ゴールを満たすためのテストプロセス構築に向けて: 大西 建児 氏

有料セッションだったので内容を細かく書くのは控えますが、とても充実した内容で勉強になりました。講師の皆様方、ありがとうございました。

それだけでは何なので、受講するにあたって予習した書籍を紹介しておきます。







「マインドマップから始めるソフトウェアテスト」はテストにマインドマップを生かしていこうという本です。最近は、マインドマップはとてもはやっているようで、私も仕事で使っています。「ソフトウェアテスト実践ガイド」は、テストプロセス全体の流れを説明しつつ、各アクティビティでの実践的なポイントを説明してくれている本です。どちらもテストの基本とポイントがしっかりと書かれているので、あらためて勉強になりました。テスト本が初めての方にもおススメです。