Toshiyuki Kawanishi Blog


2008
7 . 17

TEF勉強会: PictMaster勉強会

本日は、ソフトウェアテストに関する2つのイベントに参加してきました。

1つ目は、@IT主催の「組み込みソフトウェア 品質向上セミナー」です。組み込み分野に限らず、ソフトウェアテストに関する様々なお話が伺えました。特に、宮崎大学の片山先生と豆蔵の羽生田さんのお話は大変に興味深かったです。

続いて、2つ目は、TEFの勉強会。今回のタイトルは「PictMaster勉強会」。Microsoft製のPairwised法によってテストケースを生成するツールであるPICT。そのPICTを使いやすくするためのExcelマクロがPictMasterです。
勉強会では、PICTの話題を中心に、組み合わせテストに関するご講演がありました。講師は、PictMasterの作者である鶴巻さん、ATAFなどを長年やられている辰巳さん、そして、HAYST法の秋山さんです。
PictMasterの特徴、要因分析のコツ、Pairwised法と直交表の使い分けなど、ためになるお話が盛りだくさんでした。秋山さんが話されていた、直交表で足りないテストケースをPICTで生成する手法などは、実際に使ってみたいなと思いました。

講師の方々、また会場を提供してくださったり、勉強会を準備してくださった方々、本当にありがとうございました。


それから、勉強会で紹介されていた以下の本が気になりました。今度チェックしてみようかなと思っています。様々な視点で網羅率というものを扱っているのが素敵です。


Introduction to Software Testing
Paul Ammann Jeff Offutt
Cambridge Univ Pr (Sd)